功率半导体器件在开关过程中会因自热偏离静态工作点，TH500 半导体脉冲电压/电流分析仪（PIV 测试系统）正是为此设计的仪器。它在设定偏置下向被测器件施加高压脉冲信号做 Pulse IV 测量，模拟器件快速开关的工作过程，观察器件在工作状态下的性能变化，主要用于高压功率器件的静态特性与可靠性测试，也适合封装器件与晶圆级芯片的测试验证。
在测试能力方面，TH500 的脉宽最小可低至 200ns，配合固定静态偏置点做窄脉冲动态 IV 测量，可获得接近等温的测试条件，减少器件自热带来的数据偏差；仪器还能对器件寄生效应做量化测量与数据运算，具备内部与外部同步能力，支持脉冲时序设置与时域波形记录；设备可与 socket 测试座、半自动探针台互联，便于把器件测试从实验室延伸到产线。
海福瑞（武汉）科技有限公司可提供选型咨询、样机演示、安装调试与售后技术支持，帮助用户把功率器件的 Pulse IV 测试方案落到实处。需要报价或安排现场演示，欢迎通过网站或电话与我们联系。
